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 ELBIS ( Electron Beam and Image Simulator ) 

      マルチスライス法 (multi slice method) と相互透過係数 (TCC :  transmission cross coefficient  )を用いた 、

    TEM 像 / STEM 像 / 電子回折 シミュレーションソフトウェア 

特徴 :         試供版をご用意してあります。ダウンロードページよりどなたでも入手いただけます。)

       GPU を用いた高速計算  [1]

       拡張されたTCC [2] を用いての、

       収差補正TEM (Aberration corrected TEM)  [3] の 残存収差を考慮した計算が可能  

       結晶、Cluster、 非晶質、バイオ試料の TEM/ STEM 像計算が可能

          [1]   https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0304399115300061

          [2]   https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0304399116300493

          [3]   https://academic.oup.com/jmicro/article/62/1/23/1989930?searchresult=1

      

動作環境:

  

  Windows  7 ,8 ,10 ,11

        RAM  4GB以上 /  16 GB 以上推奨 

     モニター 14インチ以上

  NVIDIA GPU (compute capability 3.0 以上)   

作成・販売:  FH electron optics  / email: sim_em_image@jcom.zaq.ne.jp  

                         Copyright © 2015 FH electron optics  All Rights Reserved.           

                               

                               ご質問、ご提案、その他、お気軽にお問合せください。

                                               代表 : 細川史生 (理博)

 

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